EMC測試電磁兼容射頻場感應引起的傳導干擾

射頻場感應引起的傳導干擾：
在通常情況下，被干擾設備的尺寸要比頻率較低的干擾波（例如80MHZ以下頻率）波長小很多，相形之下，設備引線（包括電源線及其架空線的延伸，通信線和接口電纜線等）的長度則可能達到干擾波的幾個波長（或更長）。這樣，設備引線就變成被動天線，接受射頻場的感應，變為傳導干擾侵入設備內部，終以射頻電壓和電流形成的近場電磁場影響設備的工作。

射頻場感應所引起的傳導干擾與射頻場輻射電磁干擾恰成一對，相互補充，形成150khz-1000mhz全頻段抗擾度試驗，其中150khz-80mhz為傳導抗擾度試驗，80-1000mhz為輻射抗擾度試驗。

射頻傳導抗擾度試驗儀器：

下面是完成由射頻場感應所引起傳導干擾抗擾度試驗所必需的試驗發生器組成

1）射頻傳導抗擾度測試系統（帶寬150khz-230mhz，有幅度調制功能，能手動或自動掃描，掃描點的留駐時間可以設定，輸出信號的幅度可自動控制）

2）射頻功率放大器（取決于試驗方法及試驗的嚴酷度等級）

3）低通和高通濾波器（用于避免信號諧波對試品產生干擾）

4）固定衰減器（衰減量固定為6db，輸出阻抗為50w，采用固定衰減器的目的，是要減少攻放至耦合網絡間的不匹配程度，在安裝時要盡量靠近耦合網絡）

干擾耦合設備： 

射頻傳導干擾的耦合電路，它可以將干擾信號很好的耦合到與受試設備相連的各種電纜上，它在規定頻率范圍內具有規定的共模阻抗，從受試設備端口看進去的共模阻抗在0.15-26mhz范圍內為150w±20w,在26-80mhz范圍內為150w（＋60w~-40w）干擾耦合設備有耦合/去耦網絡和耦合夾。

于低頻（150kHz-80MHz/230MHz）的射頻信號，由于其波長比EUT尺寸要長得多，EUT的互連電纜（包括電源線和信號線）比EUT本身更容易成為天線而接收電磁場，因此射頻抗擾度試驗的低頻部分，采用傳導測試量方式，更直接。射頻傳導抗擾度測試使用的信號和IEC 61000-4-3完全相同，只是頻率范圍不同。

CDN直接容性耦合注入：適合于電源線（使用M型CDN）以及常用電纜（例如非屏蔽非平衡線AF2，AF3，AF4，AF5，AF8；屏蔽電纜S1，S1/75，S2，S4，RJ45S，S9，S15，S25，S37，S50；非屏蔽平衡線T2，T4，T8，RJ11，RJ45等）。

電磁鉗注入：如果無法使用CDN，可以使用EM-鉗（電磁鉗），電磁鉗是一種高效寬帶的夾鉗式注入設備，常用于測試非屏蔽的多根電纜。

電流鉗注入：如果無法使用CDN，而且被測電纜的長度很短，就需要使用電流鉗。

直流注入法：通過100Ω電阻直接注入到同軸電纜的屏蔽層上。

測試依據標準：
IEC 61000-4-6/GB T 17626.6：射頻場感應的傳導騷擾抗擾度試驗